面源黑體

B-100TE 低溫高發射率大面源黑體

LR Tech大面源黑體在整個光譜范圍內擁有高發射率和良好特性. 它的表面由70多個小的圓錐金字塔組成,與傳統的擴展平面黑體相比,具有更高的發射率。它有自己的發射率證書和報告,并顯示光譜波段分布。

校準源包含在一個緊湊的外殼內,外殼重量僅為1.1kg(2.4 lbs.)。它的控制器是完全集成,使該黑體可靈活滿足各種應用場景,同時提供一個實驗室級別的準確性。

此外,黑體還內置軟件,允許它與LR-Tech光譜輻射計接口實現數據通訊,并將所有校準和實驗數據保存在EDGAR2軟件包提供的數據庫中。

B-100TE 黑體校準源的溫度范圍從環境溫度-5°C到+100°C,讀數精度為±0.5%。黑體發射極內置精密熱敏電阻(10K)溫度傳感器,精度高,重復性好。溫度控制器使用工業標準PID算法將發射器溫度控制在±0.5°C以內。黑體發射器機制使用電阻加熱裝置,提供長壽命、短穩定時間和穩定溫度控制。

B-100TE

型號 單位 B-100TE
面源大小 CM 10*10
?溫度設置分辨率 ?°C ?0.01
?溫度顯示分辨率 ??°C ?0.01
?溫度精度 ??°C ?±0.2%
?穩定性 ???°C ?±0.5
?變化速率 ????°C/分鐘 ?15
?面源平面 ?多錐體布局,74個小錐體布置
?涂層 ?aeroglaze z-306
?發射率 ?有驗證證書 ?>0.96(5-14μm)
?均勻性 ?5% accrocs 90% of the entire surface
?溫度傳感器 ?長壽命高精度熱敏電阻
?尺寸(長寬高) ?MM ?230*210*309
?重量 KG ?11.5
?通訊接口 ?USB/Ethernet
?電腦控制 ?直接控制/Via an Edgar software plug-in(included)
?使用溫度范圍 ?°C ?0 – 50
?電壓 ?110/220VAC
?電流 ?9Amp

高溫高發射率大面源黑體

LR Tech提供的大面源系列黑體,在發射率和均勻性方面具有優異的性能,同時保持了長期的溫度穩定性。它的計算機接口允許一種簡單的方式來監控和存儲用于校準其他光學設備的相關黑體性能參數。它緊湊而堅固的設計使其成為實驗室和現場應用的最佳校準工具。

B-500HE-10 10cm X 10 cm high temperature extended area blackbody

B-500HE-20?20cm X 20 cm high temperature extended area blackbody

B-500HE系列是高溫大面源黑體,它提供了一個很好的精度,同時在超過90%的發射表面積提供了一個非常好的均勻性(5%以內)。

我們的黑體也提供了它發射率的光譜特征,并附有它自己的證書。它的穩定性和均勻性是由附加的蓄熱體(獨立界面)保證的,蓄熱體是由它自身加熱并與發射板良好耦合的。這保證了比傳統黑體更穩定和均勻。

它的控制器結構緊湊,使用方便,直接與模塊結合,簡化了設置所需的空間。

控制器自帶接口,允許直接從其內置接口進行配置。為了便于在計算機和/或專用網絡上使用,還集成了rs232/usb接口。還提供了一個可選的軟件包,允許直接從LR Tech的Edgar2軟件庫下讀取采集的數據。

 

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